[发明专利]GaAs基含B高应变量子阱及其制备方法、半导体激光器有效

专利信息
申请号: 201110401751.0 申请日: 2011-12-06
公开(公告)号: CN103151710A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 王琦;贾志刚;郭欣;任晓敏;黄永清 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H01S5/343 分类号: H01S5/343
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及半导体光电子材料与器件领域,公开了一种GaAs基含B高应变量子阱的制备方法,包括步骤:S1、在GaAs衬底上生长GaAs缓冲层;S2、在所述GaAs缓冲层的顶部生长高应变阱层,生长过程中通入B源形成含B高应变阱层;S3、在所述含B高应变阱层上生长GaAs垒层或应变补偿垒层,形成GaAs基含B高应变量子阱。本发明还公开了一种GaAs基含B高应变量子阱以及一种边发射半导体激光器。本发明通过将B并入到InGaAs或GaAsSb中补偿In、Sb并入GaAs导致的晶格常数变大,从而实现对晶格失配度的调控;通过将B并入到InGaAs或GaAsSb中降低高应变InGaAs或GaAsSb的表面能,从而进一步拓展InGaAs/GaAs和GaAsSb/GaAs高应变量子阱的发光波长;通过对含B高应变阱层进行应变补偿,从而提高量子阱的光学质量。
搜索关键词: gaas 应变 量子 及其 制备 方法 半导体激光器
【主权项】:
一种GaAs基含B高应变量子阱的制备方法,包括以下步骤:S1、在GaAs衬底上生长GaAs缓冲层;S2、在所述GaAs缓冲层顶部生长高应变阱层,生长过程中通入B源以形成含B高应变阱层;S3、在所述含B高应变阱层上生长GaAs垒层或应变补偿垒层,以形成GaAs基含B高应变量子阱。
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