[发明专利]空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法有效
| 申请号： | 201110403814.6 | 申请日： | 2011-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN102520279A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 刘华罡;王卫国;王少宁 | 申请（专利权）人： | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 杨志兵;李爱英 |
| 地址： | 730000 甘肃*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明为一种空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法，属于电子产品技术领域。首先针对工作环境温度的周期性变化，将环境温度进行等步阶分割，再分别计算每个台阶温度下的对应时间段的可靠度；然后计算一个周期和整个寿命末期的可靠度，最后给出改进的可靠度指数计算公式；当选择工作环境温度作为加速应力即通过提高工作环境温度进行空间电子设备的加速寿命试验时，应采用改进的可靠度指数计算公式，在可靠性不变的前提下将周期性变化工作环境温度等效变换为恒定型工作环境温度，从而确定基准应力。本发明解决了通过提高工作环境温度进行空间电子设备的加速寿命试验时，如何准确确定温度加速基准应力这一技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 电子设备 加速 寿命 试验 温度 基准 应力 确定 方法 | ||
【主权项】：
空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法，其特征在于：首先针对工作环境温度的周期性变化，将环境温度进行等步阶分割，再分别计算每个台阶温度下的对应时间段的可靠度；然后计算一个周期和整个寿命末期的可靠度，最后给出改进的可靠度指数计算公式；当选择工作环境温度作为加速应力即通过提高工作环境温度进行空间电子设备的加速寿命试验时，应采用改进的可靠度指数计算公式，在可靠性不变的前提下将周期性变化工作环境温度等效变换为恒定型工作环境温度，从而确定基准应力。
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