[发明专利]一种光学邻近修正方法无效
申请号: | 201110403846.6 | 申请日: | 2011-12-07 |
公开(公告)号: | CN103149792A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 王谨恒;陈洁 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮;李辰 |
地址: | 214028 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种光学邻近修正方法,通过将客户提供的原始图形中,不符合规则的部分进行预处理,使该些部分的图形转化成符合规则的形状,然后在对整个图形进行OPC处理,从而使本发明可以避免因非规则图形对OPC处理带来的影响,大大提高了OPC处理的准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 邻近 修正 方法 | ||
【主权项】:
一种光学邻近修正方法,其特征在于,所述修正方法包括步骤:根据工艺规格确定光刻工艺参数;根据所述光刻工艺参数确定光学邻近修正模型,建立光学邻近修正的运算程序;提供一待光学邻近修正的图形,根据一图形设计规则,确定该图形中不符合设计规则的部分;对不符合设计规则的部分做一图形预处理,将该些部分的图形规则化,并得到预处理之后的图形;对所述预处理之后的图形运行所述光学邻近修正的运算程序,得到该图形的修正图形。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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