[发明专利]用于测量介质卷曲度的成角度阵列传感器方法和系统在审
申请号: | 201110405142.2 | 申请日: | 2011-11-30 |
公开(公告)号: | CN102538718A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 约安纳斯·N·M·德容 | 申请(专利权)人: | 施乐公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30;G01N21/89 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种利用成角度阵列传感器来精确测量叼口和尾缘介质卷曲度的方法和系统。在工艺方向上通过与卷曲器相关联的一组辊/夹辊可将一或更多卷曲介质片材从叼口和/或尾缘向成角度阵列传感器推进。在横交工艺方向上具有旋转矢量的所述成角度阵列传感器可以设置于介质推进器件的上游或下游并相对于退出卷曲器的介质片材成角度,以测算片材卷曲度的函数。通过测量被推进的介质片材触及与成角度阵列传感器关联的阵列的点可以获得所述片材卷曲度的函数。这样的卷曲度测量方法提高了相对于环境诱导误差的精确度和稳健性。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 介质 卷曲度 角度 阵列 传感器 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种用于测量介质片材卷曲度的方法,所述方法包括:在工艺方向上通过介质推进器件将至少一个卷曲介质片材从边缘向成角度阵列传感器推进,其中所述成角度阵列传感器在横交工艺方向上拥有旋转矢量;和为了获得片材卷曲度的函数,测量所述至少一个卷曲介质片材触及与所述成角度阵列传感器关联的阵列的点,从而提高相对于环境诱导误差的精确度和稳健性。
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