[发明专利]光学透镜中心厚度测量系统及方法无效
| 申请号： | 201110405930.1 | 申请日： | 2011-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102435146A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 宋光均;吴剑峰;郑祥利 | 申请（专利权）人： | 广州标旗电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 谭英强 |
| 地址： | 510640 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了光学透镜中心厚度测量系统及方法，该系统包括光源，所述光源连接有分光装置，分光装置和光学探头正对且中心位于同一轴上，所述分光装置的一端还连接有光谱仪，光谱仪连接到计算机上。该方法为：光源发出的多色光经过分光装置进行光线耦合后进入光学探头；经过光学探头的多色光射到被测零件上发生反射、折射；反射回探头的光通过分光装置后进入到光谱仪；光谱仪根据返回光的能量分析得出不同波长光的能量曲线图；将所得的数据传输给计算机，通过公式进行计算得出透镜中心厚度，并显示出来。本发明在测量时简单便捷、数据精准，且非接触的测量方法不会损坏零件，作为光学透镜中心厚度测量系统及方法广泛运用于光学零件的精密测量。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 透镜 中心 厚度 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
光学透镜中心厚度测量系统，包括光源，其特征在于：还包括分光装置、光学探头、光谱仪和计算机，所述光源连接分光装置，分光装置和光学探头正对且中心位于同一轴上，所述分光装置的一端还连接有光谱仪，光谱仪连接到计算机上。
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