[发明专利]SmCo5垂直磁化膜的双层结构底层材料及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110407886.8 申请日: 2011-12-09
公开(公告)号: CN102522094A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 缪向水;程伟明;刘文武;戴亦凡;王霄;程晓敏 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G11B5/66 分类号: G11B5/66;G11B5/84
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种SmCo5垂直磁化膜的双层结构底层材料,它包括依次设置在衬底上的Ti3W7层和Cu层,Ti3W7层厚度5~30nm,优选5nm,Cu层厚度50~500nm,优选100nm。制备方法为在衬底上沉积5~30nm的Ti3W7层;然后在Ti3W7层上沉积50~500nm的Cu层,制得Cu/Ti3W7双层结构底层材料。当采用溅射法进行沉积时:以Ar作为溅射气体对Ti3W7靶进行溅射,在衬底上沉积Ti3W7层;然后以Ar为溅射气体对Cu靶进行溅射,在Ti3W7层上沉积Cu层。本发明可以提高Cu底层晶粒沿(111)面择优取向生长并降低其表面粗糙度,从而可很好地引导和调控沉积在上面的SmCo5薄膜的(0001)面沿垂直膜面方向生长,显著地提高SmCo5薄膜的垂直磁性能,使SmCo5薄膜可更好用于高密度垂直磁记录领域。
搜索关键词: smco sub 垂直 磁化 双层 结构 底层 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种SmCo5垂直磁化膜的双层结构底层材料,其特征在于,它包括依次设置在衬底上的Ti3W7层和Cu层,Ti3W7层的厚度是5~30nm,Cu层的厚度是50~500nm。
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