[发明专利]一种多片面阵CCD的筛选测试系统无效

专利信息
申请号: 201110409076.6 申请日: 2011-12-09
公开(公告)号: CN102497575A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 余达;臧佳;赵莹;孔德柱;吕世良;刘金国;郭永飞 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;G01R31/26
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种多片面阵CCD的筛选测试系统,涉及多片面阵CCD的筛选测试系统,它解决现有面阵CCD在温度循环和功率老化筛选测试时,存在面阵CCD连续工作、试验周期较长的问题,本系统在摄像期间将各片面阵CCD图像数据以每四片为单位进行图像数据的整合,使输入的数据通道数降为原来的芯片数的1/4,再并行存储到SDRAM阵列,摄像结束后逐个通道读出图像数据并经采集卡存储到主机的硬盘上判别;本发明对输入和输出图像数据有效信号进行了重构,充分利用行消隐期和帧消隐期来降低读写操作频率;采用三个时钟域、两组异步FIFO及两组串并转换器和并串转换器来实现高速情况下进行图像数据位数的非整数倍稳定可靠地转换。
搜索关键词: 一种 片面 ccd 筛选 测试 系统
【主权项】:
1.一种多片面阵CCD的筛选测试的方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:步骤一、主机向控制器发出摄像开始命令和存储的帧数命令,控制器产生相应的工作时序,同时输出多路面阵CCD图像数据;步骤二、将步骤一输出的多路面阵CCD图像数据并行缓存至SDRAM阵列;步骤二一、将每路中的面阵CCD以四片为单位将位宽为nbit,频率为fin/4的面阵CCD图像数据通过四通道图像数据整合电路Ai进行四通道图像数据的整合,获得位宽为nbit,频率为fin的图像数据;步骤二二、根据输入帧和行有效信号将步骤二一获得位宽为nbit,频率为fin的图像数据经输入有效数据重构电路Ai进行有效数据的重构,将每路输入的位宽为nbit,频率为fin的图像数据在每帧最末一行最末位置添加nvalid_equal-nvalid×nline个无效数据,每帧非最末行图像数据长度不变,每帧有效数据总和为nvalid_equal,所述每帧有效数据总和nvalid_equal满足为s的整数倍且所述s为4n的整数倍,n为正整数;然后将位宽为nbit,频率为fin的图像数据输入串并转换器Ai进行串并转换,将每8个图像数据组成一组,变为位宽8nbit,频率为fin/8的图像数据,将串并转换后的图像数据写入异步FIFO Ai,获得位宽为8nbit,频率变为2fnew/n的图像数据;所述i为正整数,i的取值为1≤i≤m,m为大于2的正整数;步骤二三、将步骤二二所述的位宽为8nbit,频率为2fnew/n的图像数据经并串转换器Bi进行并串转换,获得位宽16bit,频率为fnew的图像数据,将所述位宽16bit,频率为fnew的图像数据连续写入异步FIFO Bi,步骤二四、根据SDRAM写操作方式,断续从异步FIFO Bi中以频率为fSDRAM,位宽为16bit读出图像数据并行写入对应的SDRAM Ai;步骤三、将步骤二缓存至SDRAM阵列的每路图像数据逐路经图像采集卡存储到主机硬盘;步骤三一、根据SDRAM读操作方式,连续从对应的SDRAM Ai中逐路读出以频率为fSDRAM,位宽为16bit的图像数据;步骤三二、步骤三所述的频率为fSDRAM,位宽为16bit的图像数据经数据选择器输出后断续写入异步FIFO C中;然后以频率fnew,位宽为16bit的图像数据连续从异步FIFO C中读出,经串并转换器C后变为频率为2fnew/n,位宽为8nbit的图像数据;步骤三三、将步骤三二所述的频率为2fnew/n,位宽为8nbit的图像数据经异步FIFO D输出,频率变为fin/8,位宽为8nbit;然后将所述频率变为fin/8,位宽为8nbit的图像数据经并串转换器D输出位宽为nbit,频率为fin的图像数据,每输出nvalid个有效图像数据后输出w个时钟宽度的无效图像数据,所述w的范围在2≤w<tH_min×fin-nvalid之间;w为正整数,然后经输出有效数据重构电路B丢弃每帧最末一行的nvalid_equal-nvalid×nline个无效数据,重构输出帧和行有效信号;步骤三四、将步骤三三输出的图像数据经外部接口电路B后再经含PC的采集卡存储在主机的硬盘上。
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