[发明专利]一种曲面轮廓测量及检测的测头半径补偿方法无效

专利信息
申请号: 201110412612.8 申请日: 2011-12-12
公开(公告)号: CN102494657A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 胡云岗;王晏民 申请(专利权)人: 北京建筑工程学院
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B11/24
代理公司: 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 代理人: 史霞
地址: 100044*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及曲面工件轮廓线的测量及检测方法,公开了一种曲面轮廓测量及检测的测头半径补偿方法。在本发明中,利用测头沿截面轮廓标注线扫描取点,形成测头轮廓线点云,并在截面轮廓标注线的左右两侧各增加一条扫描线,对于测头轮廓线点云中任一点P附近选取距离最近的若干点,并构建出拟合平面,通过拟合平面法矢实现点P的测球半径补偿P’。利用该方法经投影计算后,可得到设计位置的测量轮廓线点云数据。本发明测量精度高,尤其可满足具有复杂曲面的大型工件的轮廓线测量及质量检测的要求。
搜索关键词: 一种 曲面 轮廓 测量 检测 半径 补偿 方法
【主权项】:
一种曲面轮廓测量及检测的测头半径补偿方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、利用测头沿待测工件的截面轮廓线扫描取点,形成测头轮廓线点云,利用测头在所述截面轮廓线的左右两侧各增加至少一条扫描线,形成至少一条左线点云和至少一条右线点云;步骤二、提取所述测头轮廓线点云中的点P,从所述测头轮廓线点云中提取与点P距离最近的至少两个点,并且从每一条所述左线点云中均提取与所述测头轮廓线点云中的点P距离最近的至少一个点,从每一条所述右线点云中均提取与所述测头轮廓线点云中的点P距离最近的至少一个点,形成点组,利用所述点组拟合平面,并得到所述拟合平面的法矢,对点P沿法矢方向进行半径补偿,得到半径补偿点P’;步骤三、重复步骤二,得到由与所述测头轮廓线点云中的点对应的半径补偿点构成的截面轮廓线点云。
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