[发明专利]一种微放电器性能测试装置及方法无效
| 申请号： | 201110412677.2 | 申请日： | 2011-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN103163438A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 文莉;何利文;褚家如;王海 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R31/24 | 分类号： | G01R31/24;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 230026*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种微放电器性能测试装置，该装置包括：上盖板可拆卸的真空腔，且所述真空腔的上盖板上设置有观察窗与过真空接口；位于所述真空腔内部的支撑台，支撑台上方可放置待测的微放电器；通过电极引线与所述微放电器相连的外部电路，所述外部电路包括为所述微放电器供电的激励电源；悬设于所述微放电器上方的信号收集装置；通过光纤与所述信号收集装置相连的光谱仪。本发明所提供的装置结构简单，操作方便，无需复杂的光路系统，利用该装置能够实现简单、高效、可靠的对微放电器的光谱性能进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电器 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种微放电器性能测试装置，其特征在于，该装置包括：上盖板可拆卸的真空腔，且所述真空腔的上盖板上设置有观察窗与过真空接口；位于所述真空腔内部的支撑台，支撑台上方可放置待测的微放电器；通过电极引线与所述微放电器相连的外部电路，所述外部电路包括为所述微放电器供电的激励电源；悬设于所述微放电器上方的信号收集装置；通过光纤与所述信号收集装置相连的光谱仪。
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