[发明专利]一种CuCr合金触头材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201110412822.7 申请日: 2011-12-12
公开(公告)号: CN102522241A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 潘峰;王光月;曾飞 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01H11/04 分类号: H01H11/04;H01H1/025
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种CuCr合金触头材料及其制备方法。该方法包括如下步骤:(1)采用物理气相沉积在自转的基片上沉积Cu膜;(2)启动Cr组元的沉积,并保持Cr组元的相对沉积速率梯度增长,在所述Cu膜上沉积CuCr合金膜a;所述Cr组元的相对沉积速率为Cr组元的沉积速率与Cu组元的沉积速率的比值,所述Cr组元的沉积速率为单位元面积的所述基片上单位时间内沉积的Cr质量;所述Cu组元的沉积速率为单位元面积的所述基片上单位时间内沉积的Cu质量;(3)保持Cr组元的相对沉积速率不变,在所述CuCr合金膜a上继续沉积CuCr合金膜b,然后在真空条件下经原位退火即得。本发明采用物理气相沉积的方法制备了高强度、高导电、高耐电弧侵蚀的CuCr合金触头材料,同时该方法可以节约能源和原材料的消耗。
搜索关键词: 一种 cucr 合金 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种CuCr合金触头材料的制备方法,包括如下步骤:(1)采用物理气相沉积在自转的基片上沉积Cu膜;(2)采用物理气相沉积,启动Cr组元的沉积,并保持Cr组元的相对沉积速率增长,在所述Cu膜上沉积CuCr合金膜a;所述Cr组元的相对沉积速率为Cr组元的沉积速率与Cu组元的沉积速率的比值,所述Cr组元的沉积速率为单位面积的所述基片上单位时间内沉积的Cr质量;所述Cu组元的沉积速率为单位面积的所述基片上单位时间内沉积的Cu质量;(3)采用物理气相沉积,保持Cr组元的相对沉积速率不变,在所述CuCr合金膜a上继续沉积CuCr合金膜b,然后在真空条件下经原位退火即得所述CuCr合金触头材料。
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