[发明专利]一种对可重构VLSI阵列构造低温子阵列的方法

摘要

本发明提供了一种对可重构VLSI阵列构造低温子阵列的方法，属于VLSI阵列的温度控制领域。所述方法首先使用贪心的选路方法对一个含有故障单元的VLSI阵列H按照从左到右的方式进行重构，得到一个最大无故障逻辑阵列MTA；然后将最大无故障逻辑阵列MTA中的所有逻辑列进行温度优化，得到新的低温逻辑列，由所述新的低温逻辑列构成了最大低温子阵列MLTA。本发明首次提出了重构低温子阵列的概念，通过对由主阵列得到的最大无故障逻辑阵列MTA进行温度的优化，使得重构以后的处理器阵列的温度最低，提高了系统性能，降低了系统的温度，延长了电路的使用寿命。

主权项

一种对可重构VLSI阵列构造低温子阵列的方法，其特征在于：所述方法首先使用贪心的选路方法对一个含有故障单元的VLSI阵列H按照从左到右的方式进行重构，得到一个最大无故障逻辑阵列MTA；然后对最大无故障逻辑阵列MTA中的所有逻辑列进行温度优化，得到新的低温逻辑列，最后由所述新的低温逻辑列构成了最大低温子阵列MLTA；所述含有故障单元的VLSI阵列H中的故障包括硬故障和软故障，所述硬故障是指VLSI芯片在加工制造或在使用中造成的不可修复的物理故障，软故障是指处理单元超过其最大临界工作温度而导致的暂时故障。