[发明专利]用于集成电路测试的低功率且面积优化的扫描单元无效
| 申请号： | 201110415674.4 | 申请日： | 2011-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN102692599A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | R·C·泰库玛拉;P·库玛;P·克里施纳莫斯;P·迈德哈尼 | 申请（专利权）人： | LSI公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 陈华成 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于集成电路测试的低功率且面积优化的扫描单元。一种集成电路包括扫描测试电路系统以及使用该扫描测试电路系统来进行测试的附加电路系统。扫描测试电路系统包括具有多个扫描单元的至少一条扫描链，该扫描链被配置成在扫描移位操作模式中作为串行移位寄存器来操作，以及在功能操作模式中捕获来自附加电路系统的至少一部分的功能数据。至少扫描链的扫描单元中的给定的扫描单元包括配置成在扫描移位操作模式中禁用扫描单元的功能数据输出以及在功能操作模式中禁用扫描单元的扫描输出的输出控制电路系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 测试 功率 面积 优化 扫描 单元 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：扫描测试电路系统；以及利用所述扫描测试电路系统进行测试的附加电路系统；所述扫描测试电路系统包括具有多个扫描单元的至少一条扫描链，所述扫描链被配置成在扫描移位操作模式中作为串行移位寄存器来操作，以及在功能操作模式中捕获来自至少所述附加电路系统的一部分的功能数据；其中至少所述扫描链中的给定的扫描单元包括配置成在所述扫描移位操作模式中禁用所述扫描单元的功能数据输出以及在所述功能操作模式中禁用所述扫描单元的扫描输出的输出控制电路系统。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LSI公司，未经LSI公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110415674.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于向移动终端的用户提供POI信息的方法和设备
- 下一篇：泵装置
