[发明专利]场效应管阈值电压漂移测量方法在审

专利信息
申请号: 201110417426.3 申请日: 2011-12-14
公开(公告)号: CN102654556A 公开(公告)日: 2012-09-05
发明(设计)人: 朱夏明;孙亮;郝昭慧;林承武;邵喜斌 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种场效应管阈值电压漂移测量方法,涉及场效应管电学特性测量技术领域,该方法包括步骤:在所述场效应管栅极施加恒定栅偏压Vstress一段时间后,不撤去Vstress,对栅极和漏极分别施加测量信号Vgm和Vdm,得到漏极电流-栅极电压转移特性曲线;将所述转移特性曲线与未加栅偏压Vstress时分别对栅极和漏极施加测量信号Vgm和Vdm测得的初始转移特性曲线比较得到所述场效应管的阈值电压漂移值。本发明减小了测量过程中外加测量信号对场效应管电学特性的影响,能准确地测量场效应管在栅偏压作用下的阈值电压漂移特性。
搜索关键词: 场效应 阈值 电压 漂移 测量方法
【主权项】:
一种场效应管阈值电压漂移测量方法,其特征在于,在所述场效应管栅极施加恒定栅偏压Vstress一段时间后,不撤去Vstress,对栅极和漏极分别施加测量信号Vgm和Vdm,得到漏极电流‑栅极电压转移特性曲线;将所述转移特性曲线与未加栅偏压Vstress时分别对栅极和漏极施加测量信号Vgm和Vdm测得的初始转移特性曲线比较得到所述场效应管的阈值电压漂移值。
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