[发明专利]一种超材料匹配层的折射率获取方法和电磁作用器件有效
| 申请号： | 201110418477.8 | 申请日： | 2011-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN103164556A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 刘若鹏;季春霖;岳玉涛;李勇祥 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;H01Q15/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种超材料匹配层的折射率获取方法和电磁作用器件。该匹配层的折射率获取方法包括：采用仿真方式使第一电磁波倾斜透过匹配层；获取用以描述和衡量匹配层对第一电磁波响应的数据，包括匹配层对应电磁波出射一侧表面的当前相位分布数据；获取当前相位分布与目标相位分布之间的差距信息；若相位分布之间的差距未达预期，改变匹配层的折射率分布，并返回获取匹配层对电磁波响应的数据的步骤，直至相位分布之间的差距达到预期。本发明可以针对任何角度斜入射的电磁波，实现入射电磁波和发射电磁波最大程度的相互抵消，降低电磁波的损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 匹配 折射率 获取 方法 电磁 作用 器件 | ||
【主权项】：
一种超材料匹配层的折射率获取方法，其特征在于，包括：采用仿真方式使第一电磁波倾斜透过匹配层，所述匹配层包括第一匹配层和第二匹配层；获取用以描述和衡量所述匹配层对第一电磁波响应的数据，包括所述匹配层对应电磁波出射一侧表面的当前相位分布数据；获取当前相位分布与目标相位分布之间的差距信息；若所述相位分布之间的差距未达预期，改变所述匹配层的折射率分布，并返回获取所述匹配层对电磁波响应的数据的步骤，直至所述相位分布之间的差距达到预期。
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