[发明专利]复合绝缘子高光谱检测方法

摘要

本发明提供一种复合绝缘子高光谱检测方法，包括以下步骤：1）采用高光谱成像仪对复合绝缘子成像，获取复合绝缘子的高光谱影像；2）对复合绝缘子的高光谱影像进行预处理，包括几何校正、辐射校正以获得较为精确的光谱信息；3）用专业分析平台进行处理分析，确定复合绝缘子的运行状态，判定结果输出/显示，判断是否需要更换复合绝缘子。本发明复合绝缘子高光谱检测方法可对复合绝缘子进行非接触式检测，不需工人登塔；且现场操作所需时间短，用高光谱成像仪获取数据时，可以同时得到多个复合绝缘子的信息，便于后期同时对多个复合绝缘子进行处理分析，达到批量检测的目的，满足我国复合绝缘子状态检测的需求。

主权项

一种复合绝缘子高光谱检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1）采用高光谱成像仪对复合绝缘子成像，获取复合绝缘子的高光谱影像，其过程是：高光谱成像仪的扫描器获取复合绝缘子的信息后，光线通过物镜后，依次穿过狭缝、准直镜、色散元件，将各波段的入射光进行高精度的分光，投射到探测器上的不同位置成像，得到不同波段的影像；探测器将收集的辐射能量转变为化学能或电能进行存储，然后由处理器对收集的信号进行信号放大、编码处理，最后输出高光谱影像；2）对复合绝缘子的高光谱影像进行预处理，包括几何校正、辐射校正以获得较为精确的光谱信息；3）用专业分析平台进行处理分析，确定复合绝缘子的运行状态，判定结果输出/显示，判断是否需要更换复合绝缘子。