[发明专利]一种判断存储系统振动是否达标的测试方法无效

专利信息
申请号: 201110421762.5 申请日: 2011-12-16
公开(公告)号: CN102522101A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 唐远琳 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种判断存储系统振动是否达标的测试方法,属于存储系统技术领域,测试软件为性能测试软件Iometre,方法是采取在不同的位置不同的环境,测试硬盘性能,通过不同情况下的性能测试结果比较,来衡量系统是否达标,具体为:(1)将硬盘放置机箱外面测试,运行Iometre测试硬盘顺序写性能,(2)将上述单块硬盘放置在存储机箱的各个受机箱硬件影响的位置运行Iometre测试硬盘顺序写性能,比较是否受机箱硬件影响比较大;(3)将上述单块硬盘放在满盘位上测试Iometre硬盘顺序写性能,判断硬盘之间共振是否比较大。本发明和现有技术相比,具有成本低、操作方法简单方便、测试结果准确等特点。
搜索关键词: 一种 判断 存储系统 振动 是否 达标 测试 方法
【主权项】:
一种判断存储系统振动是否达标的测试方法,其特征在于测试软件为性能测试软件Iometre,方法是采取在不同的位置不同的环境,测试硬盘性能,通过不同情况下的性能测试结果比较,来衡量系统是否达标,具体方法步骤为:(1)、测试机箱外单块硬盘:将一单块硬盘放置机箱外面测试,运行Iometre测试硬盘顺序写性能,测试时间为十分钟;(2)、测试机箱硬件振动情况:将上述单块硬盘放置在存储机箱的各个受机箱硬件影响的位置运行Iometre测试硬盘顺序写性能,每次测试时间为十分钟;可以和步骤(1)比较是否受机箱硬件影响比较大;(3)、测试硬盘共振情况:将上述单块硬盘放在满盘位上测试Iometre硬盘顺序写性能,时间为十分钟,可以判断硬盘之间共振是否比较大。
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