[发明专利]回转体异型曲线机构进给精度的检测系统及其检测方法无效
申请号: | 201110426050.2 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN102426096A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 李华;朱辉;常何民 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 徐平 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供一种回转体异型曲线机构进给精度的检测系统及其检测方法。回转体异型曲线机构包括回转基体和外围定位零件,外围定位零件上的定位销钉嵌入回转基体上的异型曲线槽中,并能够在槽内自由滑动;本发明的检测系统包括光学自准直仪、反射镜、能够记录转动角度的转台和用以测量外围定位零件高度的测高仪,回转基体水平固定于转台上,反射镜竖直固定于外围定位零件上,光学自准直仪位置固定,其准直轴线水平对准所述反射镜。本发明结果可靠;检测方法灵活;高效率;易于普及。 | ||
搜索关键词: | 回转 异型 曲线 机构 进给 精度 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种回转体异型曲线机构进给精度的检测系统,所述回转体异型曲线机构包括回转基体和外围定位零件,外围定位零件上的定位销钉嵌入回转基体上的异型曲线槽中,并能够在槽内自由滑动;该检测系统包括光学自准直仪、反射镜、能够记录转动角度的转台和用以测量外围定位零件高度的测高仪,回转基体水平固定于转台上,反射镜竖直固定于外围定位零件上,光学自准直仪位置固定,其准直轴线水平对准所述反射镜。
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