[发明专利]一种利用光纤Bragg光栅温度传感器测量瓷质绝缘子温度的方法有效
| 申请号： | 201110428679.0 | 申请日： | 2011-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN102519625A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 李川;张旭;孙家禄;李建发;赵艳峰 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学;云南电力试验研究院（集团）有限公司电力研究院 |
| 主分类号： | G01K11/32 | 分类号： | G01K11/32 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 650093 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种利用光纤Bragg光栅温度传感器测量瓷质绝缘子温度的方法，属于光电子测量技术领域，首先将光纤Bragg光栅温度传感装置固定在瓷质绝缘子钢帽的外表面和瓷质绝缘子瓷盘的下表面；然后利用瓷质绝缘子温度的变化引起光纤Bragg光栅波长的改变，通过光纤Bragg光栅波长与温度的变化关系式 |
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| 搜索关键词： | 一种 利用 光纤 bragg 光栅 温度传感器 测量 绝缘子 温度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种瓷质绝缘子的光纤Bragg光栅温度测量方法，其特征在于：首先将光纤Bragg光栅温度传感装置固定在瓷质绝缘子串中的每一个瓷质绝缘子的钢帽的外表面和瓷盘的下表面；然后利用瓷质绝缘子温度的变化引起光纤Bragg光栅波长的改变，通过光纤Bragg光栅波长与温度的变化关系式![]()
，计算出每一个瓷质绝缘子钢帽和瓷盘温度的变化值，进而求出相邻绝缘子之间相对应的钢帽和瓷盘的温度变化的差值；最后根据正常工作状态下相邻绝缘子之间温差不超过1K，把所测相邻瓷质绝缘子的温差与正常工作状态下相邻绝缘子之间温差进行比较，从而判断瓷质绝缘子的工作状态。
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