[发明专利]一种三相熔断器检测装置有效

专利信息
申请号: 201110430266.6 申请日: 2011-12-18
公开(公告)号: CN102495364A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 熊艳;祁希靖;张浩;张军;王立文;刘浩川;李松泽;张凌华 申请(专利权)人: 施耐德万高(天津)电气设备有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 天津才智专利商标代理有限公司 12108 代理人: 庞学欣
地址: 300384 天津市南开区华苑*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种三相熔断器检测装置。其包括电阻R1-R6,R10,R11,电容C6,C8,C1、二极管D1-D3、发光二极管DS1、光电耦合器U1、场效应管V3、继电器K1、输出端子以及电源电路。本发明提供的三相熔断器检测装置能直接准确地检测出三相熔断器或三相开关的工作状态,具有结构简单、安全可靠,并且没有检测盲区、抗干扰能力强等优点。
搜索关键词: 一种 三相 熔断器 检测 装置
【主权项】:
一种三相熔断器检测装置,其特征在于:所述的三相熔断器检测装置包括:电阻R1‑R6,R10,R11,电容C6,C8,C1、二极管D1‑D3、发光二极管DS1、光电耦合器U1、场效应管V3、继电器K1、输出端子以及电源电路;其中:电阻R1一端与A相熔断器的上口A点相连接,另一端与电路的M点相连接;电阻R2一端与B相熔断器的下口b点相连接,另一端与电路的M点相连接;电阻R3一端与C相熔断器的上口C点相连接,另一端与电路的M点相连接;电阻R4一端与A相熔断器的下口a点相连接,另一端与电路的N点相连接;电阻R5一端与B相熔断器的上口B点相连接,另一端与电路的N点相连接;电阻R6一端与C相熔断器的下口c点相连接,另一端与电路的N点相连接;电容C6的一端与M点相连接,另一端与N点相连接;二极管D1的正极与M点相连接,负极与电阻R9相连接;R9的另一端与光电耦合器U1的1端子相连接;电容C8的一端与光电耦合器U1的1端子相连接,另一端与U1的2端子相连接;电阻R10的一端与光电耦合器U1的5端子相连接,另一端与发光二极管DS1的负极相连接;电阻R11的一端与光电耦合器U1的4端子相连接,另一端与电路的GND相连接;电容C1的一端与光电耦合器U1的4端子相连接,另一端与电路的GND相连接;二极管D2为稳压二极管,其正极与GND相连接,负极与光电耦合器U1的5端子相连接;场效应管V3的源极与GND相连接,栅极与光电耦合器U1的4端子相连接,漏极与继电器K1的输入端相连接;继电器K1的另一个输入与发光二极管DS1的负极相连接;二极管D3的正极与场效应管V3的漏极相连接,负极与发光二极管DS1的负极相连接;电源电路的正输出端与发光二极管DS1的正极相连接,负极与GND相连接;输出端子的三个输入端与继电器K1的三个输出端相连接。
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