[发明专利]绝缘栅双极晶体管及制造方法有效

专利信息
申请号: 201110431434.3 申请日: 2011-12-21
公开(公告)号: CN103178101A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 王海军 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06;H01L21/331
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种绝缘栅双极晶体管,包括多个P型柱,各P型柱将漂移区分隔成多个单元,且各P型柱和各P型柱之间的第一N型层组成P型薄层和N型薄层交替排列的结构,使组成IGBT器件的NMOS为一种超级结的库尔MOS结构,超级结的NMOS结构能使器件的漂移区更易耗尽,从而能提高漂移区的耐压能力并提高器件整体的耐压能力;漂移区的耐压能力的提高,能使漂移区的掺杂浓度提高,以及能使漂移区的厚度变薄,从而能降低器件导通电阻,增加器件的电流密度,减小器件通态时的电阻和焦耳热,提高器件的关断响应速度。本发明公开了一种绝缘栅双极晶体管的制造方法。
搜索关键词: 绝缘 双极晶体管 制造 方法
【主权项】:
一种绝缘栅双极晶体管,其特征在于,包括:集电区,由形成于硅衬底底部的P型层组成,从所述硅衬底的背面引出集电极;漂移区,由形成于所述硅衬底中的第一N型层组成,所述第一N型层位于所述集电区上部并和所述集电区相接触;多个P型柱,由填充于第一沟槽中的P型外延层组成,所述P型柱的底部进入所述第一N型层中、并且所述P型柱的底部和所述集电区相隔有一段距离;每两个相邻的所述P型柱之间组成绝缘栅双极晶体管的一个单元结构,所述单元结构包括:P阱,所述P阱形成于所述漂移区上,所述P阱的深度小于所述P型柱的深度;发射区,由形成于所述P阱上部的第二N型层组成,所述P阱将所述发射区和所述漂移区隔开;栅极,覆盖部分所述P阱,被所述栅极覆盖的所述P阱为沟道区,所述沟道区连接所述P阱两侧的所述漂移区和所述发射区。
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