[发明专利]用于集成电路测试系统的智能过流保护电路有效
| 申请号： | 201110433627.2 | 申请日： | 2011-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN102522725A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 姜岩峰;张东;鞠家欣;胡爱民;马新国 | 申请（专利权）人： | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号： | H02H3/093 | 分类号： | H02H3/093;G01R1/36 |
| 代理公司： | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人： | 陈曦;贾兴昌 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成电路测试系统的智能过流保护电路，包括半桥逆变单元、过流检测单元、计时单元和负载等效单元。其中，半桥逆变单元连接过流检测单元；过流检测单元连接计时单元，并对负载等效单元中的电流进行采样；过流检测单元检测到过流信号的持续时间超过计时单元预设的时间长度时，集成电路测试系统锁定；否则忽略过流现象，集成电路测试系统正常工作。本发明应用在集成电路测试系统中，可以提高对误触发或者电容耦合的抗干扰能力，进一步改善整个电路的稳定性能、提高集成电路测试系统的整体可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 测试 系统 智能 保护 电路 | ||
【主权项】：
一种用于集成电路测试系统的智能过流保护电路，其特征在于：所述智能过流保护电路包括半桥逆变单元、过流检测单元、计时单元和负载等效单元；其中，所述半桥逆变单元连接所述过流检测单元；所述过流检测单元连接所述计时单元，并对所述负载等效单元中的电流进行采样；所述过流检测单元检测到过流信号的持续时间超过所述计时单元预设的时间长度时，集成电路测试系统锁定；否则忽略过流现象，集成电路测试系统正常工作。
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