[发明专利]磁控开关电气寿命的检测装置有效
申请号: | 201110434114.3 | 申请日: | 2011-12-21 |
公开(公告)号: | CN102495365A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 祝云飞;刘峰;李旦峰 | 申请(专利权)人: | 合肥美的荣事达电冰箱有限公司;合肥华凌股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 230601 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提出了一种磁控开关电气寿命的检测装置,包括:传送带;支架,支架支撑传送带;控制传送带转动的电机;位于传送带一侧的一个或多个磁控开关;分别与一个或多个磁控开关相互串联的一个或多个第一发光器件;与一个或多个磁控开关及一个或多个第一发光器件以及电机相连的直流电源,用于为一个或多个磁控开关及一个或多个第一发光器件以及电机供电;以及设置在传送带上的至少一个磁铁,磁铁随传送带转动以不断地触发一个或多个磁控开关。本发明的实施例能够模拟多种测试环境,从而检测出磁控开关在不同模拟环境下的电气寿命,具有测试准确的优点,且该装置结构简单,成本低。 | ||
搜索关键词: | 开关 电气 寿命 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,包括:传送带;支架,所述支架支撑所述传送带;控制所述传送带转动的电机;位于所述传送带一侧的一个或多个磁控开关;分别与所述一个或多个磁控开关相互串联的一个或多个第一发光器件;与所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机相连的直流电源,用于为所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机供电;以及设置在所述传送带上的至少一个磁铁,所述磁铁随所述传送带转动以不断地触发所述一个或多个磁控开关。
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