[发明专利]用于放射性物质检测和X光辐射成像的集成系统有效

专利信息
申请号: 201110435104.1 申请日: 2008-03-18
公开(公告)号: CN102565097A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 阮明;蒲中奇;赵崑;吕君;王小兵;贺宇 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01T1/00;G01T3/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周红力;刘鹏
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及放射性物质探测和X光辐射成像领域,提供了一种用于在同一地点进行对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的集成系统,解决了现有技术中两种检测必须分开进行的技术问题。本发明中的集成系统包括:X光检测设备,用于对被检物体进行X光辐射成像检查;放射性物质监测设备,用于检测所述被检物体发出的放射性射线;以及用于阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备的装置。本发明实现了两种检测的紧凑集成,大大节约了空间、时间资源,避免了由于在放射性物质监测设备和X光检测设备之间不断运送货品导致的人力、物力上的浪费。
搜索关键词: 用于 放射性 物质 检测 光辐射 成像 集成 系统
【主权项】:
一种用于对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的方法,所述方法包括:利用X光检测设备,对被检物体进行X光辐射成像检查;利用放射性物质监测设备,检测所述被检物体发出的放射性射线;其特征在于,该方法还包括:阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备。
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