[发明专利]深槽隔离结构的制造方法无效

专利信息
申请号: 201110435710.3 申请日: 2011-12-22
公开(公告)号: CN102522363A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 遇寒;梅绍宁 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 刘昌荣
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种深槽隔离结构的制造方法,该方法在成长外延层后,按照以下步骤制造深槽隔离结构:1)炉管成长二氧化硅和氮化硅,再在氮化硅上淀积二氧化硅;2)曝光显影,干法刻蚀打开要刻蚀深槽的区域;3)以步骤1)形成的二氧化硅-氮化硅-二氧化硅作为刻蚀阻挡层,干法刻蚀形成深槽;4)再次炉管氧化,成长二氧化硅,将深槽隔离区域的氮化硅下方的硅全部氧化;5)淀积二氧化硅,封住深槽开口;6)深槽表面平坦化。该方法通过深沟槽刻蚀和氧化技术,形成超厚场氧化隔离层,同时利用氮化硅作为平坦化的阻挡层,从而不仅达到了隔离的效果,还大大改善了面内均匀性,降低了后端工艺的难度。
搜索关键词: 隔离 结构 制造 方法
【主权项】:
深槽隔离结构的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在硅衬底上生长外延层;2)进炉管依次成长二氧化硅和氮化硅,再在氮化硅上淀积一层二氧化硅;3)曝光,显影,用干法刻蚀方法打开要刻蚀深槽的区域;4)以步骤2)形成的二氧化硅‑氮化硅‑二氧化硅作为刻蚀阻挡层,干法刻蚀形成深槽;5)炉管氧化,成长二氧化硅,将深槽隔离区域的氮化硅以下的硅全部氧化掉;6)淀积二氧化硅,封住深槽开口;7)深槽表面平坦化。
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