[发明专利]一种双面图形的硅化物复合衬底GaN基LED芯片及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110438684.X 申请日: 2011-12-23
公开(公告)号: CN103178179A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 于峰;彭璐;刘存志;张成山;徐现刚 申请(专利权)人: 山东浪潮华光光电子股份有限公司
主分类号: H01L33/22 分类号: H01L33/22;H01L33/10;H01L33/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 吕利敏
地址: 261061 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种双面图形的硅化物复合衬底发光二极管及其制作方法。所述的双面图形的硅化物复合衬底发光二极管包括蓝宝石图形衬底,图形衬底是背面减薄抛光至衬底厚度80~150μm,衬底的正面和背面都制有内凹坑图形,衬底的背面内凹坑内填满有SiO2或SiNx后再蒸镀有一层布拉格反射膜系和一层金属膜组成的ODR介质膜,使得衬底正面内凹坑图形、背面内凹坑图形,以及背面内凹坑内的SiO2或SiNx共同构成具有不同折射率的复合衬底,有效提高发光二极管的外量子效率。
搜索关键词: 一种 双面 图形 硅化物 复合 衬底 gan led 芯片 及其 制作方法
【主权项】:
一种双面图形的硅化物复合衬底的发光二极管,包括蓝宝石图形衬底,图形衬底正面上生长有外延层,电流扩展层,P、N电极台面,SiO2掩膜,P电极、N电极;其特征在于所述的图形衬底是衬底背面减薄抛光至衬底厚度80~150μm,衬底的正面和背面都制有内凹坑图形,衬底的背面内凹坑内填满有SiO2或SiNx后再蒸镀有一层布拉格反射膜系和一层金属膜组成的ODR介质膜,使得衬底正面内凹坑图形、背面内凹坑图形,以及背面内凹坑内的SiO2或SiNx共同构成具有不同折射率的复合衬底。
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