[发明专利]射频集成电路测试系统及控制方法

摘要

本发明公开了射频集成电路测试系统，包括上位机、底层硬件控制模块、测试夹具板和可程控测试仪器；其特征在于：在上位机中设置有串口模块、电路功能设置模块和参数测试模块；在底层硬件控制模块中包括单片机，在单片机中设置有MCU串口模块、数据运算模块、MCU功能初始化模块和电路设置操作模块；其中：串口模块用于上位机与底层硬件控制模块的单片机进行通信；电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供自动化测试的函数调用；对可程控测试仪器进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；可广泛用于射频电路的控制与测试分析。

主权项

射频集成电路测试系统，包括上位机（1）、底层硬件控制模块（2）、测试夹具板（3）和可程控测试仪器（4）；其特征在于：在上位机（1）中设置有串口模块（12）、电路功能设置模块（13）和参数测试模块（15）；在底层硬件控制模块（2）中包括单片机（5），在单片机（5）中设置有MCU串口模块（51）、数据运算模块（52）、MCU功能初始化模块（53）和电路设置操作模块（54）；其中：串口模块（12）用于上位机（1）与底层硬件控制模块（2）的单片机（5）进行通信；电路功能设置模块（13）用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块（15）用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供自动化测试的函数调用；对可程控测试仪器（4）进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示； MCU串口模块（51）用于与上位机（1）进行通信，MCU串口模块（51）接收上位机（1）通过串口模块（12）输出的数据，进行处理后输出到数据运算模块（52）；数据运算模块（52）用于对接收到的数据进行恢复，给MCU功能初始化模块（53）和电路设置操作模块（54）提供可识别的数据；MCU功能初始化模块（54）对数据运算模块（52）输出的数据进行判断，并通过判断后的结果按数据对执行相应功能的单片机I/O口初始化；电路设置操作模块（54）对数据运算模块（52）输出的数据进行判断，并通过判断后的结果调用对应的功能设置函数，利用已初始化的单片机I/O口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制；待测射频集成电路安装在测试夹具板（3）上，待测射频集成电路通过测试夹具板（3）和底层硬件控制模块（2）与上位机（1）进行通讯，并且，待测射频集成电路通过测试夹具板（3）输出信号到可程控测试仪器（4）或者接收可程控测试仪器（4）输出的信号；可程控测试仪器（4）接收上位机（1）的参数测试模块输出的信号，通过测试夹具板（3）读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机（1）。