[发明专利]均匀域测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 201110443664.1 | 申请日： | 2011-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103185841A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 何小练 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/067 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试。该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头。该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。同时提供一种使用该均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 均匀 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试，其特征在于：该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头，该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。
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