[发明专利]一种嵌入式软件可靠性测试缺陷注入与控制方法无效

专利信息
申请号: 201110448414.7 申请日: 2011-12-28
公开(公告)号: CN102541737A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 艾骏;敖麒;钟芳凌;郑峰;陆民燕;王金辉 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 周长琪
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种嵌入式软件可靠性测试缺陷注入与控制方法,在被测嵌入式软件所在的目标机中设置了缺陷管理模块和通信调度模块,研究人员通过测试平台对被测嵌入式软件进行缺陷注入和控制,缺陷跟踪控制与软件功能执行在同步的基础上并行进行,两者采用不同的通道,数据之间不发生冲突。本发明方法可以根据课题研究和测试的实际需要自定义软件缺陷,根据研究人员的需要对被测嵌入式软件进行软件缺陷的设置,在发生软件失效后,对导致失效的缺陷号进行报告,节约了查错排错所需要的大量时间,能提高软件失效课题研究的效率,提高了软件缺陷的可控性,实现了更有针对性的进行软件可靠性方面的研究。
搜索关键词: 一种 嵌入式 软件 可靠性 测试 缺陷 注入 控制 方法
【主权项】:
一种嵌入式软件可靠性测试缺陷注入与控制方法,其特征在于,在被测嵌入式软件所在的目标机中设置了缺陷管理模块和通信调度模块,研究人员通过测试平台对被测嵌入式软件进行缺陷注入和控制,具体包括以下步骤:步骤1:测试平台读取缺陷配置文档,通过网络下发缺陷配置文档给目标机中的通信调度模块;所述的缺陷配置文档主要包括:包含所有缺陷信息的原始缺陷配置信息,记录测试需要打开的缺陷开关标识的缺陷开关配置文档;步骤2:通信调度模块收到缺陷配置文档后,将缺陷配置文档传送给缺陷管理模块,缺陷管理模块从缺陷开关配置文档中获得测试需要打开的缺陷开关标识,并将被测嵌入式软件引入的相应的缺陷开关变量的值置为1;在初始化时全部缺陷的开关变量的值都置为0,缺陷开关变量值为0时表示关闭缺陷,值为1时表示打开缺陷;步骤3:对被测嵌入式软件进行插桩,标识被测嵌入式软件可能执行的每一条分支路径;步骤4:对嵌入式软件代码的逻辑关系进行分析,确定植入的缺陷所引起的失效所在的分支路径中的位置,在该位置处建立相应的缺陷发生的条件判据,在发生软件失效时,将相应的缺陷号返回;步骤5:执行被测嵌入式软件,测试平台通过串口传送被测嵌入式软件的输入和输出数据,记录软件执行的路径信息并对缺陷运行情况进行实时采集;具体记录软件执行的路径信息并对缺陷运行情况进行实时采集的过程是:建立消息队列,在被测嵌入式软件执行用例过程中,每当走到一个分支路径,就将相应的路径标识写入建立的消息队列中,当被测嵌入式软件执行用例完毕、或者被测嵌入式软件发生失效报告缺陷号时,消息队列内的内容存储下来,通过网络发送给测试平台;步骤6:判断是否发生失效,若发生失效,记录缺陷路径、缺陷发生时间和缺陷号,并保存在测试记录文档中,然后执行步骤7;若没有发生失效,继续转步骤5执行;步骤7:是否需要对缺陷进行重新配置,若需要,则停止测试,通过测试平台或者人工修改缺陷配置文件,然后转步骤1执行;若不需要对缺陷重新配置,则转步骤5继续执行。
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