[发明专利]辅同步序列检测方法及终端设备有效

专利信息
申请号: 201110448869.9 申请日: 2011-12-28
公开(公告)号: CN103188789A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 郭华永;邓瑞楠;王乃博 申请(专利权)人: 联芯科技有限公司
主分类号: H04W56/00 分类号: H04W56/00;H04L27/26
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 卢刚
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及通信领域,公开了一种辅同步序列检测方法及终端设备。本发明中,通过对短序列0的度量值按元素的编号模P同余的规则分成P组,得到P组(P为短序列1的组数)同余短序列0的度量值,将短序列0的度量值分成与短序列1相同的组数。然后,对每组同余短序列0与相应的每组短序列1进行比较,将短序列0和短序列1的度量值不近似相等的码字对应的度量值清零。由于根据辅同步信号的生成特点可知,在接收端的两个短序列功率应当相差不大,因此,通过利用两个短序列度量值近似相等的特性,对于不近似相等度量值清零,可以有效降低误检概率,而且不会影响辅同步序列检测的成功率。即有效提高了检测准确度,快速实现了辅同步序列检测。
搜索关键词: 同步 序列 检测 方法 终端设备
【主权项】:
一种辅同步序列检测方法,其特征在于,包含以下步骤;A、接收端对短序列0的度量值按元素的编号模P同余的规则分成P组,得到P组同余短序列0的度量值,其中,P为短序列1的组数;B、对每一组同余短序列0的度量值和每一组短序列1的度量值,分别取本组内包含的最大度量值;C、如果第k组的同余短序列0中的最大度量值,与第k组的短序列1中的最大度量值之间的比值,大于预设门限,则将该第k组的同余短序列0中的所有度量值,与该第k组的短序列1中的所有度量值,全部清零;k=0,1,2...P‑1;D、根据经过所述步骤C后的短序列0和短序列1的度量值,检测辅同步序列。
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