[发明专利]适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统

摘要

本发明公开了一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，包括冷光源、第一、第二、第三入射狭缝、第一、第二汇聚透镜、滤光片转换器、光电探测器、卤素灯和第一滤光片，冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、第三入射狭缝、光电探测器依次同轴设置在X轴上，第一入射狭缝与第二入射狭缝之间放置装有待检测物质的检测管，第一汇聚透镜与第三入射狭缝之间设置安装有第二滤光片和第三滤光片的滤光片转换器，卤素灯、第一滤光片、第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上。本发明可同时进行吸收光检测和荧光检测，在两种检测进行的过程中，检测管不用移动，通过本发明得到的检测结果准确性高。

主权项

一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，其特征在于：它包括冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、滤光片转换器、第三入射狭缝、光电探测器、卤素灯、第一滤光片和第二汇聚透镜，该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器依次同轴设置在X轴上，该第一入射狭缝与该第二入射狭缝之间放置检测管，该第一汇聚透镜与该第三入射狭缝之间设置有该滤光片转换器，该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上，其中：该检测管中装有待检测物质，该待检测物质包括通过吸收光检测方式检测的物质和/或通过荧光检测方式检测的物质；该X轴与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质相对应设置，该Y轴与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质相对应设置，该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜所处于的Y轴部分与该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器所处于的X轴部分之间形成一个锐角或直角，在该第二汇聚透镜、该第一滤光片和该卤素灯之中，该第二汇聚透镜距离该检测管最近；该滤光片转换器上安装有第二滤光片和第三滤光片，其中：当进行吸收光检测时，该滤光片转换器使得该第二滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置；当进行荧光检测时，该滤光片转换器使得该第三滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置；该冷光源发出的单色光的波长与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质所能吸收、透射的光的波长相应，该第二滤光片的中心波长与该冷光源发出的单色光的波长相应，该第一滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质所需的激发光的波长相应，该第三滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质对应激发出的荧光的波长相应。