[发明专利]一种晶硅太阳能电池的刻槽方法无效

专利信息
申请号: 201110452263.2 申请日: 2011-12-29
公开(公告)号: CN102544209A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 李驰 申请(专利权)人: 彩虹集团公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 712021*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种晶硅太阳能电池的刻槽方法,其特点是,包括如下步骤:(1)在沉积氮化硅膜层后的硅片表面印刷一层湿膜,厚度为5-25um,掩膜涂料图形并烘干,该图形掩盖住硅片表面无需电极部分,露出硅片表面需要刻槽的部分;(2)将等离子产生装置的气流打开,控制流量为2-10L/MIN,待气体产生辉光放电后,将硅片放入,正面朝上,放置20s-5min取出;(3)然后将腐蚀后的硅片浸入浓度质量分数为1-25%的NaOH或1-25%的KOH溶液中,加热到30-70℃进行刻槽,刻蚀槽的深度5~15um,刻槽完成后利用去离子水将硅片表面残留的杂质及碱液清洗烘干。本发明方法节省了工艺步骤,提高了经济效益。
搜索关键词: 一种 太阳能电池 方法
【主权项】:
一种晶硅太阳能电池的刻槽方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)、在沉积氮化硅膜层后的硅片表面印刷一层湿膜,厚度为5‑25um,掩膜涂料图形并烘干,该图形掩盖住硅片表面无需电极部分,露出硅片表面需要刻槽的部分;(2)、将等离子产生装置的气流打开,控制流量为2‑10L/MIN,待气体产生辉光放电后,将硅片放入,正面朝上,放置20s‑5min后取出;(3)、然后将腐蚀后的硅片浸入浓度质量分数为1‑25%的NaOH或1‑25%的KOH溶液中,加热到30‑70℃进行刻槽,刻蚀槽的深度5~15um,刻槽完成后利用去离子水将硅片表面残留的杂质及碱液清洗,然后烘干即可。
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