[发明专利]一种摆片刚度的测试方法有效

专利信息
申请号: 201110452478.4 申请日: 2011-12-30
公开(公告)号: CN102564862A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 张兰;赵连元;秦淑斌;刘英;吴艳;袁枫;杨守安;郭琳瑞 申请(专利权)人: 航天科工惯性技术有限公司
主分类号: G01N3/14 分类号: G01N3/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100070 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出一种摆片刚度的测试方法,通过准备刚度测试装置、安装、测量位移、得到检测质量块在自重下的转角等步骤最终得到摆片刚度。本发明创造性地将位移引入到摆片刚度测试中,避免使用现有技术中采用复杂设备和费时的调试仪器,无需设计新的测试仪器,测试方式和装置简单;本发明实现了在加速度计装配前对摆片刚度的测试,操作简便,检测效率高,设备调试并完成一件产品的检测仅需约2分钟,而现有的动态法需要约15分钟,现有的静态法则需要约20分钟。
搜索关键词: 一种 刚度 测试 方法
【主权项】:
1.一种摆片刚度的测试方法,其特征在于通过以下步骤实现:第一步,准备刚度测试装置,刚度测试装置包括读数显微镜、工件支架(1)、位移传感器(7)和数据采集计算机(8),读数显微镜包括显微镜支架(2)、显微镜目镜(3)、显微镜物镜(4)、指标线分化板(5)和用来调节指标线分化板上下位置的微分鼓轮(6),指标线分化板(5)连接位移传感器(7),位移传感器(7)与数据采集计算机(8)连接;第二步,将待测刚度的摆片放置在工件支架(1)上,工件支架支撑在摆片的外环(12)上,工件支架不能遮挡在读数显微镜和待测刚度的摆片之间,调整工件支架,使摆片的摆轴方向(9)垂直向下,令检测质量块(11)绕挠性支撑(10)自然下垂;第三步,调节读数显微镜,调节读数显微镜目镜(3)的视度环,使指标线分化板(5)的十字刻线清晰的出现在视场中,调节显微镜支架(2),使读数显微镜聚焦于待测刚度的摆片,使待测刚度的摆片的影像清晰的出现在指标线分化板(5)上;第四步,获得检测质量块相对基准位置的下垂量Δd,A4.1、利用微分鼓轮(6)调节指标线分化板(5)十字刻线交点的位置,令十字刻线的交点对准待测刚度的摆片上的基准位置(14),数据采集计算机(8)采集此状态下位移传感器(7)的数据d1,所述待测刚度的摆片上的基准位置(14)为外环(12)的下沿;A4.2、利用微分鼓轮(6)调节指标线分化板(5)十字刻线交点的位置,令十字刻线的交点对准检测质量块(11)上的测量位置(13),数据采集计算机(8)采集此状态下位移传感器(7)的数据d2,所述检测质量块(11)上的测量位置(13)为检测质量块(11)自然下垂后的最低点;A4.3、数据采集计算机(8)根据Δd=d2-d1获得检测质量块相对基准位置的下垂量Δd;第五步,利用第四步得到检测质量块相对基准位置的下垂量Δd,通过公式得到检测质量块在自重下的转角θ,其中R为检测质量块上的测量位置与挠性支撑根部的距离;第六步,利用第五步得到的检测质量块在自重下的转角θ,通过公式得到待测刚度的摆片的刚度K,其中L为检测质量块重心与挠性支撑的距离,mg为检测质量块的重量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天科工惯性技术有限公司,未经航天科工惯性技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110452478.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top