[发明专利]一种摆片刚度的测试方法有效
申请号: | 201110452478.4 | 申请日: | 2011-12-30 |
公开(公告)号: | CN102564862A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 张兰;赵连元;秦淑斌;刘英;吴艳;袁枫;杨守安;郭琳瑞 | 申请(专利权)人: | 航天科工惯性技术有限公司 |
主分类号: | G01N3/14 | 分类号: | G01N3/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100070 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种摆片刚度的测试方法,通过准备刚度测试装置、安装、测量位移、得到检测质量块在自重下的转角等步骤最终得到摆片刚度。本发明创造性地将位移引入到摆片刚度测试中,避免使用现有技术中采用复杂设备和费时的调试仪器,无需设计新的测试仪器,测试方式和装置简单;本发明实现了在加速度计装配前对摆片刚度的测试,操作简便,检测效率高,设备调试并完成一件产品的检测仅需约2分钟,而现有的动态法需要约15分钟,现有的静态法则需要约20分钟。 | ||
搜索关键词: | 一种 刚度 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种摆片刚度的测试方法,其特征在于通过以下步骤实现:第一步,准备刚度测试装置,刚度测试装置包括读数显微镜、工件支架(1)、位移传感器(7)和数据采集计算机(8),读数显微镜包括显微镜支架(2)、显微镜目镜(3)、显微镜物镜(4)、指标线分化板(5)和用来调节指标线分化板上下位置的微分鼓轮(6),指标线分化板(5)连接位移传感器(7),位移传感器(7)与数据采集计算机(8)连接;第二步,将待测刚度的摆片放置在工件支架(1)上,工件支架支撑在摆片的外环(12)上,工件支架不能遮挡在读数显微镜和待测刚度的摆片之间,调整工件支架,使摆片的摆轴方向(9)垂直向下,令检测质量块(11)绕挠性支撑(10)自然下垂;第三步,调节读数显微镜,调节读数显微镜目镜(3)的视度环,使指标线分化板(5)的十字刻线清晰的出现在视场中,调节显微镜支架(2),使读数显微镜聚焦于待测刚度的摆片,使待测刚度的摆片的影像清晰的出现在指标线分化板(5)上;第四步,获得检测质量块相对基准位置的下垂量Δd,A4.1、利用微分鼓轮(6)调节指标线分化板(5)十字刻线交点的位置,令十字刻线的交点对准待测刚度的摆片上的基准位置(14),数据采集计算机(8)采集此状态下位移传感器(7)的数据d1,所述待测刚度的摆片上的基准位置(14)为外环(12)的下沿;A4.2、利用微分鼓轮(6)调节指标线分化板(5)十字刻线交点的位置,令十字刻线的交点对准检测质量块(11)上的测量位置(13),数据采集计算机(8)采集此状态下位移传感器(7)的数据d2,所述检测质量块(11)上的测量位置(13)为检测质量块(11)自然下垂后的最低点;A4.3、数据采集计算机(8)根据Δd=d2-d1获得检测质量块相对基准位置的下垂量Δd;第五步,利用第四步得到检测质量块相对基准位置的下垂量Δd,通过公式得到检测质量块在自重下的转角θ,其中R为检测质量块上的测量位置与挠性支撑根部的距离;第六步,利用第五步得到的检测质量块在自重下的转角θ,通过公式得到待测刚度的摆片的刚度K,其中L为检测质量块重心与挠性支撑的距离,mg为检测质量块的重量。
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