[发明专利]半导体激光器老化及寿命测试保护系统无效
| 申请号： | 201110453164.6 | 申请日： | 2011-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN102520336A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪;王江勃 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体激光器老化及寿命测试保护系统，该系统包括半导体激光器工作平台、液冷通道、温度检测装置和计算机处理系统。若计算机监控到其中有半导体激光器温度出现异常，将通过计算机控制驱动电源停止工作；通过计算机设定流量计的上限流量和下限流量，当实际流量高于设定的上限流量或者低于设定的下限流量时，系统报警，通过计算机控制驱动电源停止输出。本发明实现了实时监测半导体激光器老化及寿命测试过程中各个半导体激光器的状态，设置多个重要监测指标，及时对冷却系统进行调节，必要时有针对地终止某个半导体激光器的老化及寿命测试工作，避免了老化及寿命测试过程中半导体激光器意外死亡。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 老化 寿命 测试 保护 系统 | ||
【主权项】：
半导体激光器老化及寿命测试保护系统，其特征在于：包括半导体激光器工作平台、液冷通道、温度检测装置和计算机处理系统；所述温度检测装置包括多个温度探头和用以同时采集多路温度探头信号的温度采集模块，其中，所述多个温度探头一一对应于半导体激光器工作平台上的半导体激光器；所述温度采集模块的输出端与计算机处理系统的温度数据输入端连接，计算机处理系统的控制信号端分出多路信号线分别连接至相应的各个半导体激光器驱动电源的开关电路。
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