[发明专利]基于荧光淬灭传感器的检测的温度效应补偿装置及方法有效
| 申请号： | 201110453906.5 | 申请日： | 2011-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN102565016A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 赵贤德;董大明;郑文刚;鲍锋;吴文彪;郭瑞;单飞飞 | 申请（专利权）人： | 北京农业智能装备技术研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100097 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于荧光淬灭传感器的检测的温度效应补偿装置及方法，涉及光学信号检测技术领域。该装置包括：校正参数获取模块，用于测量荧光淬灭传感器的敏感膜的温度特性，获得所述敏感膜的温度校正参数，并将其发送至信号处理模块；工作参数获取模块，用于测量所述敏感膜工作时的实时温度数据，并将其发送至信号处理模块；信号处理模块，用于根据所述温度校正参数以及实时温度数据，对所述敏感膜受激发出的荧光信号进行温度效应补偿。本发明的装置及方法通过对荧光淬灭传感器的温度效应进行补偿，可大大提高基于荧光淬灭传感器的检测的准度，当温度变化时最大程度降低采集值的漂移，提高了检测准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 荧光 传感器 检测 温度 效应 补偿 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于荧光淬灭传感器的检测的温度效应补偿装置，其特征在于，该方法包括步骤：校正参数获取模块，用于测量荧光淬灭传感器的敏感膜的温度特性，获得所述敏感膜的温度校正参数，并将其发送至信号处理模块；工作参数获取模块，用于测量所述敏感膜工作时的实时温度数据，并将其发送至信号处理模块；信号处理模块，用于根据所述温度校正参数以及实时温度数据，对所述敏感膜受激发出的荧光信号进行温度效应补偿。
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