[发明专利]一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201110454082.3 | 申请日： | 2011-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN103185566A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 王宏建;易敏;陈雪;赵鑫;刘广;刘世华;郝齐焱 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 | 代理人： | 杨小蓉;高宇 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法，所述的反射面天线固定于天线支架上，包括有：电子经纬仪和天线基准镜，其特征在于，该装置还包括有光学望远镜；所述的光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上；所述的发射天线旁边放置一靶标；该测试装置，用于通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合，精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。该方法利用光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上，并在所述的发射天线旁边放置一靶标，最终通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合，精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。本发明可以解决精确测试星载天线电轴机械轴指向问题，具有准确、普适性强等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 天线 波束 指向 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种反射面天线波束指向的测试装置，所述的反射面天线固定于天线支架上，包括有：电子经纬仪和天线基准镜，其特征在于，该装置还包括有光学望远镜；所述的光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上；所述的发射天线旁边放置一靶标；该测试装置，用于通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合，精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。
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