[发明专利]一种半导体激光器老化/寿命测试实时监测方法及系统有效
| 申请号： | 201110454673.0 | 申请日： | 2011-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN102519709A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体激光器老化/寿命测试实时监测方法及系统，对一批半导体激光器进行老化/寿命测试的过程中，用光接收器在设定位置分别接收各个半导体激光器发出的光并导出，用光电探测器测试这些导出的光的功率或者光强；若这些导出的光中，出现功率或者光强异常，则判定该批半导体激光器在寿命老化测试中出现异常。本发明能够对半导体激光器的整个老化寿命测试过程进行全程监控，实时监测被测激光器的功率或者光强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 老化 寿命 测试 实时 监测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体激光器老化/寿命测试的实时监测方法，其特征在于：在对一批半导体激光器进行老化/寿命测试的过程中，用光接收器在设定位置分别接收各个半导体激光器发出的光并导出，用光电探测器分别测试这些导出的光的功率或者光强；若这些导出的光中，出现功率或者光强异常，则判定该批半导体激光器在寿命老化测试中出现异常；所述设定位置是为使每一个半导体激光器被接收的光功率或光强的比例相等所确定的位置。
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