[发明专利]一种基于多通道射频拉远单元的自动测试系统、设备以及方法有效

专利信息
申请号: 201110455644.6 申请日: 2011-12-30
公开(公告)号: CN102546058A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 汪洪川 申请(专利权)人: 成都市大富科技有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04W24/08
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 610000 四川省成都市武侯区武青南*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例公开了一种基于多通道射频拉远单元的自动测试系统,包括环行装置和控制装置;所述环行装置包括至少三个端口;所述三个端口依次对应多通道射频拉远单元、上行侧发射单元以及下行侧接收单元;所述控制装置包括上下行测试模块,所述上下行测试模块用于控制多通道射频拉远单元所有通道与上行侧发射单元、下行侧接收单元之间分别进行上行和下行测试。本发明实施例还公开了一种基于多通道射频拉远单元的自动测试设备以及方法。通过上述方式,本发明实施例能够使上行和下行测试在一个测试平台上来实现,提高测试效率,节省测试的人力和设备资源,另一方面大大降低了设备成本。
搜索关键词: 一种 基于 通道 射频 单元 自动 测试 系统 设备 以及 方法
【主权项】:
一种基于多通道射频拉远单元的自动测试系统,其特征在于:所述系统包括环行装置和控制装置;所述环行装置包括至少三个端口;所述三个端口依次对应多通道射频拉远单元、上行侧发射单元以及下行侧接收单元;所述控制装置包括上下行测试模块,所述上下行测试模块用于控制多通道射频拉远单元所有通道与上行侧发射单元、下行侧接收单元之间分别进行上行和下行测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都市大富科技有限公司,未经成都市大富科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110455644.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top