[发明专利]测量物体的有效原子序数的方法和设备有效
| 申请号： | 201110457151.6 | 申请日： | 2011-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN103185734A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 李树伟;陈志强;李元景;赵自然;刘以农;张清军;朱维斌;王义;赵书清;张文剑 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/087 | 分类号： | G01N23/087 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 物体 有效 原子序数 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种测量物体的有效原子序数的设备，包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。
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