[发明专利]多栅极场效应晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201110457448.2 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN103187446A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 赵猛 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明揭示了一种多栅极场效应晶体管,其鳍状结构的中间区域包括硅层和硅锗层,所述硅层结构呈圆锥状或圆台状,所述硅锗层多个面包裹所述硅层,故能够对硅层产生较佳的应力作用,提高了鳍状结构中沟道区的迁移率,进一步提高了多栅场效应晶体管的性能。同时,针对所述多栅极场效应晶体管的结构,本发明还揭示了一种多栅极场效应晶体管的制作方法,利用倾斜旋转离子注入的方法,在鳍状结构的中间区域形成掺杂区和无掺杂区,并利用掺杂区和无掺杂区的刻蚀速率差距,从而刻蚀去除掺杂区,保留的无掺杂区形成硅层,接着利用外延生长的选择性沉积的特性,在硅层上形成硅锗层,形成鳍状结构的工艺简单且提高了多栅极场效应晶体管的性能。 | ||
搜索关键词: | 栅极 场效应 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种多栅极场效应晶体管,包括:基底,其上形成有层间介质层;鳍状结构,位于所述层间介质层中,所述鳍状结构包括中间区域和两端区域;栅极,位于所述层间介质层中,并跨设于所述鳍状结构的中间区域的顶面和侧壁上;其特征在于,所述鳍状结构包括硅层和硅锗层,所述硅层呈圆锥状或圆台状,所述硅锗层包裹于所述硅层上,所述硅层和硅锗层中形成有沟道区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110457448.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类