[发明专利]多栅极场效应晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110457448.2 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN103187446A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 赵猛 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种多栅极场效应晶体管,其鳍状结构的中间区域包括硅层和硅锗层,所述硅层结构呈圆锥状或圆台状,所述硅锗层多个面包裹所述硅层,故能够对硅层产生较佳的应力作用,提高了鳍状结构中沟道区的迁移率,进一步提高了多栅场效应晶体管的性能。同时,针对所述多栅极场效应晶体管的结构,本发明还揭示了一种多栅极场效应晶体管的制作方法,利用倾斜旋转离子注入的方法,在鳍状结构的中间区域形成掺杂区和无掺杂区,并利用掺杂区和无掺杂区的刻蚀速率差距,从而刻蚀去除掺杂区,保留的无掺杂区形成硅层,接着利用外延生长的选择性沉积的特性,在硅层上形成硅锗层,形成鳍状结构的工艺简单且提高了多栅极场效应晶体管的性能。
搜索关键词: 栅极 场效应 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种多栅极场效应晶体管,包括:基底,其上形成有层间介质层;鳍状结构,位于所述层间介质层中,所述鳍状结构包括中间区域和两端区域;栅极,位于所述层间介质层中,并跨设于所述鳍状结构的中间区域的顶面和侧壁上;其特征在于,所述鳍状结构包括硅层和硅锗层,所述硅层呈圆锥状或圆台状,所述硅锗层包裹于所述硅层上,所述硅层和硅锗层中形成有沟道区。
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