[发明专利]一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法无效

专利信息
申请号: 201110457815.9 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN103186708A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 刘宇;汪忠来;黄洪钟;宋巍;孙锐;凌丹;肖宁聪 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 周永宏
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法,具体为:根据预防度和检测度分别打分,得到故障模式严重度和发生度的量化指标,即得到两个风险优先数RPN1和RPN2,其中,RPN1=O×S×P,RPN2=O×S×D,所述P为预防度,O为故障模式发生概率等级,S为严酷度等级,D为检测难度等级;根据两个风险优先数的高低比较,获得故障模式排序和选择方式。本发明的方法在计算风险优先数时不仅考虑故障模式的检测难易程度,而且考虑设计改进对故障模式的预防程度,从而获得的两个风险优先数,从预防和检测的角度对故障模式进行排序,避免了由于探测措施好而忽略了设计改进的情况,为产品的设计改进提供更为全面的依据。
搜索关键词: 一种 采用 两个 rpn 故障 模式 影响 危害性 分析 方法
【主权项】:
一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法,其特征在于,具体为:根据预防度和检测度分别打分,得到故障模式严重度和发生度的量化指标,即得到两个风险优先数RPN1和RPN2,其中,RPN1=O×S×P,RPN2=O×S×D,所述P为预防度,O为故障模式发生概率等级,S为严酷度等级,D为检测难度等级;根据两个风险优先数的高低比较,获得故障模式排序和选择方式。
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