[发明专利]一种利用稳态对比测量不良导体导热系数的方法无效
| 申请号： | 201110458137.8 | 申请日： | 2011-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102539472A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 单宝蓉;金一帆;孙存英;乔卫平 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 叶敏华 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用稳态对比测量不良导体导热系数的方法，首先测量不良导体标准样品的导热系数，然后再将待测样品的形状、大小和厚度制成与不良导体标准样品相同，然后检测导热稳定时待测样品两侧的温度，结合不良导体标准样品的导热系数得到该待测样品的导热系数。与现有技术相比，本发明避免了传统方法因散热盘散热过程的理论处理及数据读取引入的误差，方法简单，重复性好，易于推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 稳态 对比 测量 不良导体 导热 系数 方法 | ||
【主权项】：
一种利用稳态对比测量不良导体导热系数的方法，其特征在于，该方法首先测量不良导体标准样品的导热系数，然后再将待测样品的形状、大小和厚度制成与不良导体标准样品相同，然后检测导热稳定时待测样品两侧的温度，结合不良导体标准样品的导热系数得到该待测样品的导热系数。
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