[发明专利]冗余金属填充方法和集成电路版图结构有效
申请号: | 201110460698.1 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN102543853A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 马天宇;陈岚;方晶晶 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L27/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯长明;李玉秋 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种冗余金属填充方法,在需要填充冗余金属的区域填充若干个冗余金属,所述若干个冗余金属中,包括第一冗余金属和第二冗余金属,每个第一冗余金属的填充面积大于每个第二冗余金属的填充面积,所述第二冗余金属位于所述第一冗余金属与所述区域的互连线之间。相应地,本发明还提供一种集成电路版图结构。采用本发明的填充冗余金属方法,实现集成电路版图厚度一致性的同时降低了集成电路互连线间电容的增加,能够确保芯片的功能不会因为冗余金属的引入而遭到破坏。在需要填充冗余金属的区域中填充面积大小不同的冗余金属,减少了冗余金属填充数量,能够降低其他运算数据量。 | ||
搜索关键词: | 冗余 金属 填充 方法 集成电路 版图 结构 | ||
【主权项】:
一种冗余金属填充方法,其特征在于,包括步骤:提供待填充集成电路版图,所述集成电路版图包括至少一个金属结构层;根据每个所述金属结构层的图形确定需要填充冗余金属的区域,所述区域分布有互连线;在所述区域填充若干个冗余金属,所述若干个冗余金属中,包括第一冗余金属和第二冗余金属,每个所述第一冗余金属的填充面积大于每个所述第二冗余金属的填充面积,所述第二冗余金属位于所述第一冗余金属与所述互连线之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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