[发明专利]微粒检测设备无效
| 申请号： | 201110461361.2 | 申请日： | 2011-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN102608072A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 权俊亨;尹斗燮;卢禧烈;金秀铉;柳成润;权元植;李侠 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社;韩国科学技术院 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49;G01N21/15 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微粒检测设备。微粒检测设备包括：发光的光学元件；会聚光学系统，沿从光学元件发射的光的前进方向设置，以会聚光；微粒路径，沿已经经过会聚光学系统的光的前进方向定位，以使微粒路径与光交叉；光束阻挡单元，阻挡已经经过微粒路径的直接光；会聚透镜，设置在光束阻挡单元的后方；检测器，设置在会聚透镜的后方，以检测被微粒散射的光。由光学元件和会聚光学系统形成的光的焦点可位于微粒路径的后方。照射到微粒的光的焦点可以与微粒的引入位置不同。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种微粒检测设备，包括：发光的光学元件；会聚光学系统，沿从光学元件发射的光的前进方向设置，以会聚光；微粒路径，沿已经经过会聚光学系统的光的前进方向定位，从而微粒路径与光交叉；光束阻挡单元，阻挡已经经过微粒路径的直接光；会聚透镜，设置在光束阻挡单元的后方；检测器，设置在会聚透镜的后方，以检测被微粒散射的光，其中，由光学元件和会聚光学系统形成的光的焦点位于微粒路径的后方。
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