[发明专利]补偿由荧光检查仪产生的磁干扰有效
| 申请号： | 201110461552.9 | 申请日： | 2011-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN102525471A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | A·D·蒙塔格;M·巴-塔尔;T·H·巴-安 | 申请（专利权）人： | 韦伯斯特生物官能(以色列)有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/06 | 分类号： | A61B5/06;A61B5/05 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张金金;朱海煜 |
| 地址： | 以色列*** | 国省代码： | 以色列;IL |
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| 摘要： | 本发明涉及补偿由荧光检查仪产生的磁干扰。本发明公开了一种方法，所述方法包括使用多个磁发射器在某一区域中产生磁场，以及将场扰动元件引入所述区域中。所述方法包括表征每一个磁发射器在所述场扰动元件中的多幅图像，以及根据所述表征的图像计算所述区域中的反应磁场。所述方法还包括将探针定位在所述区域中，测量在所述探针处的被扰动的磁场，以及针对所测量的被扰动的磁场和所计算的反应磁场来确定所述探针的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 补偿 荧光 检查 产生 干扰 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：使用多个磁发射器在某一区域中产生磁场；将场扰动元件引入所述区域中；表征每一个磁发射器在所述场扰动元件中的多幅图像；根据所表征的图像计算所述区域中的反应磁场；将探针定位在所述区域中，并且测量在所述探针处的被扰动的磁场；以及针对所测量的被扰动的磁场和所计算的反应磁场来确定所述探针的位置。
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