[实用新型]半导体器件多功能手工测试装置无效
| 申请号： | 201120002301.X | 申请日： | 2011-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN201955443U | 公开（公告）日： | 2011-08-31 |
| 发明（设计）人： | 蔡新福;王一平 | 申请（专利权）人： | 无锡市玉祁红光电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 冯铁惠 |
| 地址： | 214183 江苏省无锡市惠山区玉*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 半导体器件多功能手工测试装置，包括环氧基板，在环氧基板上固定开关、端子台，并安装有若干个用于接触测试产品的铜皮，所述铜皮分别连接到开关上，并且开关和端子台之间通过导线连接。本实用新型的有益效果是：1.用多功能手动测试装置测试产品，节约了因芯片不同而更换管脚连线与设备的连接，提高了测试效率。2.用多功能手动测试装置测试产品，只需要动动开关就可以测试不一样的产品，操作使用比较方便；3.用多功能手动测试装置测试产品，不需要再人工焊接电容，提高了测试参数的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 多功能 手工 测试 装置 | ||
【主权项】：
半导体器件多功能手工测试装置，包括环氧基板，其特征在于，在环氧基板上固定开关、端子台，并安装有若干个用于接触测试产品的铜皮，所述铜皮分别连接到开关上，并且开关和端子台之间通过导线连接。
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