[实用新型]光谱检测系统及光谱仪有效
| 申请号： | 201120003488.5 | 申请日： | 2011-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN202143067U | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 贾琰 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08;H04Q11/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 518057 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光谱检测系统及光谱仪，上述光谱检测系统包括：光谱检测模块，该模块包括：输入光接口单元，用于将接收到的光信号进行传送；光性能检测单元，用于对来自于输入光接口单元的光信号检测主光路性能参数；波长偏差检测单元，与光性能检测单元相连接，用于对光性能检测单输出的光信号进行波长偏差检测；微控制器单元，分别与光性能检测单元和波长偏差检测单元相连接，用于根据用户操作指令，控制光性能检测单元和波长偏差检测单元进行检测，并对来自于光性能检测单元和波长偏差检测单元的检测结果进行处理。根据本实用新型提供的技术方案，既可以测量主光路性能参数，也可检测中心波长的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 检测 系统 光谱仪 | ||
【主权项】：
一种光谱检测系统，应用于密集波分复用系统，其特征在于，所述光谱检测系统包括：光谱检测模块，所述光谱检测模块包括：输入光接口单元，用于将接收到的光信号进行传送；光性能检测单元，用于对来自于所述输入光接口单元的光信号检测主光路性能参数；波长偏差检测单元，与所述光性能检测单元相连接，用于对所述光性能检测单输出的光信号进行波长偏差检测；微控制器单元MCU，分别与所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元相连接，用于根据用户操作指令，控制所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元进行检测，并对来自于所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元的检测结果进行处理。
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