[实用新型]单晶炉勾形磁场一线测温装置有效

专利信息
申请号: 201120016493.X 申请日: 2011-01-19
公开(公告)号: CN201990761U 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 焦尚彬;刘丁;赵跃;吕剑;陈海霸 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;G01K1/14
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 罗笛
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种单晶炉勾形磁场一线测温装置,包括四路温度测量线路,每一路温度测量线路包括上线圈测量线路和下线圈测量线路,上线圈测量线路包括11个测点,下线圈测量线路包括16个测点,每个测点上连接有一个数字温度传感器,每个数字温度传感器串联后与微处理器连接,微处理器与单晶炉磁场控制系统进行双向通信。本实用新型单晶炉勾形磁场一线测温装置,采用一线式总线数字温度传感器组建磁场测温网络,无需考虑信号调理,测温精度高,连接线缆少,安装方便,成本低廉,结构简单。
搜索关键词: 单晶炉勾形 磁场 一线 测温 装置
【主权项】:
单晶炉勾形磁场一线测温装置,其特征在于,包括四路温度测量线路,每一路温度测量线路包括上线圈测量线路(1)和下线圈测量线路(2),上线圈测量线路(1)包括11个测点,下线圈测量线路(2)包括16个测点,每个测点上连接有一个数字温度传感器(3),每个数字温度传感器(3)串联后与微处理器(4)连接,微处理器(4)与单晶炉磁场控制系统(5)进行双向通信。
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