[实用新型]自动去除半导体封装不良品的机台有效

专利信息
申请号: 201120024347.1 申请日: 2011-01-25
公开(公告)号: CN201936852U 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 王明明;金维宝;郑文豪 申请(专利权)人: 日月光半导体(昆山)有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/50;H01L21/66
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 翟羽
地址: 215341 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开一种自动去除半导体封装不良品的机台,所述机台通过一影像撷取装置撷取半导体封装不良品的表面不良品标记或是一导线架条的边框上的代码,并将影像回传至一控制主机,以取得半导体封装不良品在导线架条上的相对位置,控制主机接着发出控制信号控制一冲压模具作动,以切除半导体封装不良品,使导线架条上仅留存半导体封装良品,因此能相对降低单颗外观目视检测作业所需的人机比及提高整体设备效率。
搜索关键词: 自动 去除 半导体 封装 不良 机台
【主权项】:
一种自动去除半导体封装不良品的机台,其特征在于:所述自动去除半导体封装不良品的机台用以在一成型/分离机台之前预先处理一导线架条,其中所述自动去除半导体封装不良品的机台包含:一供料模块,供应所述导线架条,其包含数个半导体封装产品,所述数个半导体封装产品中包含至少一半导体封装不良品;至少一影像撷取装置,撷取所述导线架条上的半导体封装产品的影像;一控制主机,接收所述影像撷取装置回传的影像,并根据所述影像结果发出一控制信号;一冲压模块,受所述控制信号控制并包含一输送带及至少一冲压模具,所述输送带输送所述导线架条,并使所述导线架条的半导体封装不良品在到达所述冲压模具的下方时暂停移动,所述冲压模具冲压切除所述半导体封装不良品;以及一卸料模块,输出已切除所述半导体封装不良品的所述导线架条。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日月光半导体(昆山)有限公司,未经日月光半导体(昆山)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120024347.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top