[实用新型]自动去除半导体封装不良品的机台有效
申请号: | 201120024347.1 | 申请日: | 2011-01-25 |
公开(公告)号: | CN201936852U | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 王明明;金维宝;郑文豪 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体(昆山)有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/50;H01L21/66 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 215341 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开一种自动去除半导体封装不良品的机台,所述机台通过一影像撷取装置撷取半导体封装不良品的表面不良品标记或是一导线架条的边框上的代码,并将影像回传至一控制主机,以取得半导体封装不良品在导线架条上的相对位置,控制主机接着发出控制信号控制一冲压模具作动,以切除半导体封装不良品,使导线架条上仅留存半导体封装良品,因此能相对降低单颗外观目视检测作业所需的人机比及提高整体设备效率。 | ||
搜索关键词: | 自动 去除 半导体 封装 不良 机台 | ||
【主权项】:
一种自动去除半导体封装不良品的机台,其特征在于:所述自动去除半导体封装不良品的机台用以在一成型/分离机台之前预先处理一导线架条,其中所述自动去除半导体封装不良品的机台包含:一供料模块,供应所述导线架条,其包含数个半导体封装产品,所述数个半导体封装产品中包含至少一半导体封装不良品;至少一影像撷取装置,撷取所述导线架条上的半导体封装产品的影像;一控制主机,接收所述影像撷取装置回传的影像,并根据所述影像结果发出一控制信号;一冲压模块,受所述控制信号控制并包含一输送带及至少一冲压模具,所述输送带输送所述导线架条,并使所述导线架条的半导体封装不良品在到达所述冲压模具的下方时暂停移动,所述冲压模具冲压切除所述半导体封装不良品;以及一卸料模块,输出已切除所述半导体封装不良品的所述导线架条。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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