[实用新型]激光器和发光二极管辐射测试系统无效
| 申请号： | 201120060255.9 | 申请日： | 2011-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN202033176U | 公开（公告）日： | 2011-11-09 |
| 发明（设计）人： | 谢晋雄;张栋;张少杰;蔡屹 | 申请（专利权）人： | 深圳出入境检验检疫局玩具检测技术中心 |
| 主分类号： | G01M11/04 | 分类号： | G01M11/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种激光器和发光二极管辐射测试系统，包括探头、支架和基座，支架包括探头支架(1)、透镜支架(2)和被测光源支架(3)；基座是水平基座(4)，探头支架(1)、透镜支架(2)和被测光源支架(3)设置在设有主导轨(5)支导轨(7)的水平基座(4)上。本测试系统可方便的改变探头、透镜和被测光源三者之间的距离，且三者之间距离变化范围大；探头、透镜和被测光源分别固定在支架上，在测试过程中不会产生晃动，探头、透镜和被测光源三者中心能保证在同一直线上，测试结果影响小，测试系统可提供一个以上透镜，系统不仅能使探头和被测光源水平移动，又能在空间往复转动，系统测试数据准确，稳定性好，操作方便快速。 | ||
| 搜索关键词： | 激光器 发光二极管 辐射 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种激光器和发光二极管辐射测试系统，包括探头、支架和基座，其特征在于：所述支架包括探头支架(1)，所述探头设置在探头支架(1)的顶端(11)，透镜支架(2)，透镜(21)设置在透镜支架(2)的顶端(22)，被测光源支架(3)，在被测光源支架(3)上设有用于放置被测光源的被测光源夹(31)；所述基座是水平基座(4)，所述探头支架(1)、透镜支架(2)和被测光源支架(3)设置在水平基座(4)上，在所述透镜(21)和所述被测光源之间设有第一栅阑(26)，所述探头、透镜(21)、第一栅阑(26)和被测光源的中心线在同一直线上。
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