[实用新型]利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置无效

专利信息
申请号: 201120062785.7 申请日: 2011-03-11
公开(公告)号: CN202075219U 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 连洁;宋平;薛其坤;王晓;钟浩然;李萍;高尚;马峥;吴仕梁;王英顺 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21;G01N21/01
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 许德山
地址: 250100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置,属广义椭偏测量技术领域。该装置包括激光光源、光路系统、锁相放大器和PC机等,其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成;光路系统位于激光光源之后;电磁铁位于光路系统中的样品台两侧以形成匀强磁场;探测器的输出端连接到锁相放大器的输入端上;锁相放大器的输出端连接PC。本实用新型测量方法将斩波器、锁相放大器引入测量光路中,用斩波器将直流转换成交流光信号,由探测器输入锁相放大器中,经电脑编程控制锁相放大器采集处理数据,可测得坡莫合金的N和Q,具有很高的精度,大大降低了试验成本。该方法操作简单、测量准确。
搜索关键词: 利用 放大器 进行 磁光椭偏 测量 装置
【主权项】:
一种利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置,包括电源、激光光源、光路系统、电磁铁、锁相放大器和PC机,其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成;光路系统位于激光光源之后;电磁铁位于光路系统中的样品台两侧以形成匀强磁场,使得样品在测量时处在匀强磁场中;探测器的输出端连接到锁相放大器的输入端上;锁相放大器的输出端连接PC机,以观察记录并计算测量结果。
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